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更新时间：2023-09-27简要描述：Ourstex 100FA能量色散型X射线荧光光谱仪的X射线管发射出初级X射线到样品上，通过半导体探测器检测样品激发出的荧光X射线，从而对样品元素进行无损定性和定量分析。半导体探测器采用带电动冷却系统的硅漂移探测器（SDD），无需液氮冷却，结合数字信号处理器（DSP），使得测试结果具有高分辨力。为了提高分析性能，良好的光学激发系统使得半导体探测器达到了很高的能量分辨率和测量灵敏度。
Ourstex 100FA能量色散型X射线荧光光谱仪的X射线管发射出初级X射线到样品上，通过半导体探测器检测样品激发出的荧光X射线，从而对样品元素进行无损定性和定量分析。半导体探测器采用带电动冷却系统的硅漂移探测器(SDD)，无需液氮冷却，结合数字信号处理器(DSP)，使得测试结果具有高分辨力。为了提高分析性能，良好的光学激发系统使得半导体探测器达到了很高的能量分辨率和测量灵敏度。
Ourstex 100FA X射线荧光光谱仪特点：
快速无损地进行成分分析
对大而/或不规则的试样进行
近距离分析曲面试样
小巧轻便，适用于现场分析
非接触分析
Ourstex 100FA X射线荧光光谱仪应用：
考古调查/分析
文化资产分析
工业材料R&D评定,质量控制
高校/研究所材料研究分析
废料鉴别
Ourstex 100FA X射线荧光光谱仪技术规格：
| 测定原理 | 能量色散型X射线荧光分析法 | |
| 测定对象 | 固体、粉末、液体、薄膜、土壤渗出水、污水等 | |
| 测定元素 | 11Na-92U | |
| 样品形状大小 | 封闭使用时35*35mm(直径*高度) 开放使用时任意 | |
| 发射源 | X射线 | |
| 样品仓环境 | 大气（真空可选） | |
| 测量范围 | 约3mm直径范围 | |
| 射线输出 | 40kV-1.75mA，50W | |
| 检测器 | 电子冷却式SDD | |
| 数据处理 | 数字处理方式DSP（Digital Signal Processor） | |
| 软件 | 自动定性分析、检测线法定量分析、FP法定量分析（可选） | |
| 使用条件 | 温度：5~27°C | |
| 湿度：20~75% | ||
| 电源：AC 100, 5A或AC 220, 3A | ||
| 设置：D型接地线 | ||
| 其他附属 | 喷墨式彩色打印机，鼠标等。 | |
| 尺寸规格 | 测量头：133*170*273mm,3.9kg XG部：320*340*80mm,9.2kg 控制器部：265*340*120mm,9kg 真空泵：190*177*132mm,3kg | |
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